測(cè)定慕硫酸鋤黑體(Na2SO4·XH2O)中結(jié)晶水含量韻實(shí)驗(yàn)包括如下兩步:
①將硫酸鈉晶體制成粉末,準(zhǔn)確稱取該樣品26.8 g
②將樣品加熱至恒重,冷卻后稱得樣品質(zhì)量變?yōu)?4.2 g
試回答下列問(wèn)題:
(1)將晶體制成粉末,所用的主要化學(xué)儀器是____(填儀器名稱,下同);準(zhǔn)確稱量后將樣品放在 中加熱至恒重。
(2)判斷試樣已加熱至恒重的標(biāo)準(zhǔn)是________。
(3)根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)計(jì)算出x=____。
(4)下面的情況有可能造成測(cè)定結(jié)果偏低的是 (填序號(hào))。
A.試樣中含有加熱易揮發(fā)的雜質(zhì) B.加熱后不是在于燥器中冷卻試樣
C.實(shí)驗(yàn)前坩堝來(lái)完全干燥 D.加熱時(shí)有晶體濺出
E.試樣中含有加熱不揮發(fā)的雜質(zhì)
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科目:高中化學(xué) 來(lái)源: 題型:
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科目:高中化學(xué) 來(lái)源: 題型:
(15分)測(cè)定慕硫酸鋤黑體(Na2SO4·XH2O)中結(jié)晶水含量韻實(shí)驗(yàn)包括如下兩步:
①將硫酸鈉晶體制成粉末,準(zhǔn)確稱取該樣品26.8 g
②將樣品加熱至恒重,冷卻后稱得樣品質(zhì)量變?yōu)?4.2 g
試回答下列問(wèn)題:
(1)將晶體制成粉末,所用的主要化學(xué)儀器是____(填儀器名稱,下同);準(zhǔn)確稱量后將樣品放在 中加熱至恒重。
(2)判斷試樣已加熱至恒重的標(biāo)準(zhǔn)是________。
(3)根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)計(jì)算出x=____。
(4)下面的情況有可能造成測(cè)定結(jié)果偏低的是 (填序號(hào))。
A.試樣中含有加熱易揮發(fā)的雜質(zhì) B.加熱后不是在于燥器中冷卻試樣
C.實(shí)驗(yàn)前坩堝來(lái)完全干燥 D.加熱時(shí)有晶體濺出
E.試樣中含有加熱不揮發(fā)的雜質(zhì)
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科目:高中化學(xué) 來(lái)源:2010年四川省南山中學(xué)高三上學(xué)期入學(xué)考試(理綜)化學(xué)部分 題型:填空題
(15分)測(cè)定慕硫酸鋤黑體(Na2SO4·XH2O)中結(jié)晶水含量韻實(shí)驗(yàn)包括如下兩步:
①將硫酸鈉晶體制成粉末,準(zhǔn)確稱取該樣品26.8 g
②將樣品加熱至恒重,冷卻后稱得樣品質(zhì)量變?yōu)?4.2 g
試回答下列問(wèn)題:
(1)將晶體制成粉末,所用的主要化學(xué)儀器是____(填儀器名稱,下同);準(zhǔn)確稱量后將樣品放在 中加熱至恒重。
(2)判斷試樣已加熱至恒重的標(biāo)準(zhǔn)是________。
(3)根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)計(jì)算出x=____。
(4)下面的情況有可能造成測(cè)定結(jié)果偏低的是 (填序號(hào))。
A.試樣中含有加熱易揮發(fā)的雜質(zhì) | B.加熱后不是在于燥器中冷卻試樣 |
C.實(shí)驗(yàn)前坩堝來(lái)完全干燥 | D.加熱時(shí)有晶體濺出 |
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科目:高中化學(xué) 來(lái)源:2010年四川省高三上學(xué)期入學(xué)考試(理綜)化學(xué)部分 題型:填空題
(15分)測(cè)定慕硫酸鋤黑體(Na2SO4·XH2O)中結(jié)晶水含量韻實(shí)驗(yàn)包括如下兩步:
①將硫酸鈉晶體制成粉末,準(zhǔn)確稱取該樣品26.8 g
②將樣品加熱至恒重,冷卻后稱得樣品質(zhì)量變?yōu)?4.2 g
試回答下列問(wèn)題:
(1)將晶體制成粉末,所用的主要化學(xué)儀器是____(填儀器名稱,下同);準(zhǔn)確稱量后將樣品放在 中加熱至恒重。
(2)判斷試樣已加熱至恒重的標(biāo)準(zhǔn)是________。
(3)根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)計(jì)算出x=____。
(4)下面的情況有可能造成測(cè)定結(jié)果偏低的是 (填序號(hào))。
A.試樣中含有加熱易揮發(fā)的雜質(zhì) B.加熱后不是在于燥器中冷卻試樣
C.實(shí)驗(yàn)前坩堝來(lái)完全干燥 D.加熱時(shí)有晶體濺出
E.試樣中含有加熱不揮發(fā)的雜質(zhì)
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