科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

執(zhí)行下邊的程序框圖，若p=0.8，則輸出的n=    ．

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

數(shù)列{a_n}滿足，則a_n=    ．

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

在△ABC中，已知，
（Ⅰ）求的值；
（Ⅱ）若△ABC的面積為4，AB=2，求BC的長(zhǎng)．

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

某工廠在試驗(yàn)階段大量生產(chǎn)一種零件．這種零件有A、B兩項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)需要檢測(cè)，設(shè)各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)達(dá)標(biāo)與否互不影響．若A項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)達(dá)標(biāo)的概率為，有且僅有一項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)達(dá)標(biāo)的概率為．按質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)定：兩項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)都達(dá)標(biāo)的零件為合格品．
（Ⅰ）求一個(gè)零件經(jīng)過檢測(cè)為合格品的概率；
（Ⅱ）任意依次抽出5個(gè)零件進(jìn)行檢測(cè)，求其中至多3個(gè)零件是合格品的概率；
（Ⅲ）任意依次抽取該種零件4個(gè)，設(shè)ξ表示其中合格品的個(gè)數(shù)，求Eξ與Dξ．

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

如圖所示，AB為圓O的直徑，點(diǎn)E、F在圓O上，AB∥EF，矩形ABCD所在平面和圓O所在的平面互相垂直．已知AB=2，EF=1
（1）求證：平面DAF⊥平面CBF；
（2）求直線AB與平面CBF所成角的大��；
（3）當(dāng)AD的長(zhǎng)為何值時(shí)，二面角D-FE-B的大小為60°？

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

已知曲線C：y=x²與直線l：x-y+2=0交于兩點(diǎn)A（x_A，y_A）和B（x_B，y_B），且x_A＜x_B．記曲線C在點(diǎn)A和點(diǎn)B之間那一段L與線段AB所圍成的平面區(qū)域（含邊界）為D．設(shè)點(diǎn)P（s，t）是L上的任一點(diǎn)，且點(diǎn)P與點(diǎn)A和點(diǎn)B均不重合．
（1）若點(diǎn)Q是線段AB的中點(diǎn)，試求線段PQ的中點(diǎn)M的軌跡方程；
（2）若曲線G：x²-2ax+y²-4y+a²+=0與D有公共點(diǎn)，試求a的最小值．

科目： 來源：2010年北京八中大興分校高考數(shù)學(xué)模擬試卷（理科）（解析版） 題型：解答題

已知 f（x）=ax-lnx，g（x）=，其中x∈（0，e]（e是自然常數(shù)），a∈R
（Ⅰ）當(dāng)a=1時(shí)，求f（x）的單調(diào)性、極值；
（Ⅱ）求證：在（Ⅰ）的條件下，f（x）＞g（x）+；   
（Ⅲ）是否存在a∈R，使f（x）的最小值是3，若存在求出a的值，若不存在，說明理由．