某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示器材觀察光的干涉現(xiàn)象,其中,A為單縫屏,B為雙縫屏,C為像屏.當(dāng)他用一束陽(yáng)光照射到A上時(shí),屏C上并沒有出現(xiàn)干涉條紋.他移走B后,C上出現(xiàn)一窄亮斑.分析實(shí)驗(yàn)失敗的原因,最大的可能性是
A.單縫S太窄
B.單縫S太寬
S到S1與到S2的距離不等
D.陽(yáng)光不能作為光源
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科目:高中物理 來源: 題型:
19。某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖2所示器材觀察光的干涉現(xiàn)象,其中,A為單縫屏,B為雙縫屏,C為像屏.當(dāng)他用一束陽(yáng)光照射到A上時(shí),屏C上并沒有出現(xiàn)干涉條紋.他移走B后,C上出現(xiàn)一窄亮斑.分析實(shí)驗(yàn)失敗的原因,最大的可能性是
A.單縫S太窄 B.單縫S太寬
C.S到S1與到S2的距離不等 D.陽(yáng)光不能作為光源
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科目:高中物理 來源: 題型:
用雙縫干涉測(cè)光的波長(zhǎng)。已知雙縫與屏的距離L,雙縫間距d。用測(cè)量頭來測(cè)量亮紋中心的距離。測(cè)量頭由分劃板、目鏡、手輪等構(gòu)成,轉(zhuǎn)動(dòng)手輪,使分劃板左右移動(dòng),讓分劃板的中心刻線對(duì)準(zhǔn)亮紋的中心(如圖(甲)所示),記下此時(shí)手輪上的讀數(shù),轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)量頭,使分劃板中心刻線對(duì)準(zhǔn)另一條亮紋的中心,記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)。
(1)分劃板的中心刻線分別對(duì)準(zhǔn)第1條和第4條亮紋的中心時(shí),手輪上的讀數(shù)如圖14-4(乙)所示,對(duì)準(zhǔn)第1條時(shí)讀數(shù)x1=_ mm(允許誤差)、對(duì)準(zhǔn)第4條時(shí)讀數(shù)x2=___ __mm(允許誤差)
(2)寫出計(jì)算波長(zhǎng)λ的表達(dá)式,λ=__ ___(用x1、 x2 、L 、d表示,不用計(jì)算)。
(3)在屏上觀察到了干涉條紋.如果將雙縫的間距變大,則屏上的干涉條紋的間距將變 ;(選大或小)
(4)某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示的裝置觀察光的干涉現(xiàn)象,其中A為單縫屏,B為雙縫屏,整個(gè)裝置位于一暗箱中,實(shí)驗(yàn)過程如下:(A)該同學(xué)用一束太陽(yáng)光照射A屏?xí)r,屏C上沒有出現(xiàn)干涉條紋;移去B后,在屏上出現(xiàn)不等間距條紋;此條紋是由于 產(chǎn)生的;(B)移去A后,遮住縫S1或縫S2中的任一個(gè),C上均出現(xiàn)一窄亮斑.出現(xiàn)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要原因是 .
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科目:高中物理 來源:2010~2011學(xué)年福建省安溪一中、惠安一中、養(yǎng)正中學(xué)高二下學(xué)期期末考試物理 題型:填空題
用雙縫干涉測(cè)光的波長(zhǎng)。已知雙縫與屏的距離L,雙縫間距d。用測(cè)量頭來測(cè)量亮紋中心的距離。測(cè)量頭由分劃板、目鏡、手輪等構(gòu)成,轉(zhuǎn)動(dòng)手輪,使分劃板左右移動(dòng),讓分劃板的中心刻線對(duì)準(zhǔn)亮紋的中心(如圖(甲)所示),記下此時(shí)手輪上的讀數(shù),轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)量頭,使分劃板中心刻線對(duì)準(zhǔn)另一條亮紋的中心,記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)。
(1)分劃板的中心刻線分別對(duì)準(zhǔn)第1條和第4條亮紋的中心時(shí),手輪上的讀數(shù)如圖14-4(乙)所示,對(duì)準(zhǔn)第1條時(shí)讀數(shù)x1=_ mm(允許誤差)、對(duì)準(zhǔn)第4條時(shí)讀數(shù)x2=___ __mm(允許誤差)
(2)寫出計(jì)算波長(zhǎng)λ的表達(dá)式,λ=__ ___(用x1、 x2、L 、d表示,不用計(jì)算)。
(3)在屏上觀察到了干涉條紋.如果將雙縫的間距變大,則屏上的干涉條紋的間距將變 ;(選大或。
(4)某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示的裝置觀察光的干涉現(xiàn)象,其中A為單縫屏,B為雙縫屏,整個(gè)裝置位于一暗箱中,實(shí)驗(yàn)過程如下:(A)該同學(xué)用一束太陽(yáng)光照射A屏?xí)r,屏C上沒有出現(xiàn)干涉條紋;移去B后,在屏上出現(xiàn)不等間距條紋;此條紋是由于 產(chǎn)生的;(B)移去A后,遮住縫S1或縫S2中的任一個(gè),C上均出現(xiàn)一窄亮斑.出現(xiàn)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要原因是 .
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科目:高中物理 來源:2012屆福建省高二下學(xué)期期末考試物理 題型:填空題
用雙縫干涉測(cè)光的波長(zhǎng)。已知雙縫與屏的距離L,雙縫間距d。用測(cè)量頭來測(cè)量亮紋中心的距離。測(cè)量頭由分劃板、目鏡、手輪等構(gòu)成,轉(zhuǎn)動(dòng)手輪,使分劃板左右移動(dòng),讓分劃板的中心刻線對(duì)準(zhǔn)亮紋的中心(如圖(甲)所示),記下此時(shí)手輪上的讀數(shù),轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)量頭,使分劃板中心刻線對(duì)準(zhǔn)另一條亮紋的中心,記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)。
(1)分劃板的中心刻線分別對(duì)準(zhǔn)第1條和第4條亮紋的中心時(shí),手輪上的讀數(shù)如圖14-4(乙)所示,對(duì)準(zhǔn)第1條時(shí)讀數(shù)x1=_ mm(允許誤差)、對(duì)準(zhǔn)第4條時(shí)讀數(shù)x2=___ __mm(允許誤差)
(2)寫出計(jì)算波長(zhǎng)λ的表達(dá)式,λ=__ ___(用x1、 x2 、L 、d表示,不用計(jì)算)。
(3)在屏上觀察到了干涉條紋.如果將雙縫的間距變大,則屏上的干涉條紋的間距將變 ;(選大或。
(4)某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示的裝置觀察光的干涉現(xiàn)象,其中A為單縫屏,B為雙縫屏,整個(gè)裝置位于一暗箱中,實(shí)驗(yàn)過程如下:(A)該同學(xué)用一束太陽(yáng)光照射A屏?xí)r,屏C上沒有出現(xiàn)干涉條紋;移去B后,在屏上出現(xiàn)不等間距條紋;此條紋是由于 產(chǎn)生的;(B)移去A后,遮住縫S1或縫S2中的任一個(gè),C上均出現(xiàn)一窄亮斑.出現(xiàn)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要原因是 .
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科目:高中物理 來源: 題型:
(4分)某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示的裝置觀察光的干涉現(xiàn)象,其中A為單縫屏,B為雙縫屏,整個(gè)裝置位于一暗箱中,實(shí)驗(yàn)過程如下:
(1)該同學(xué)用一束太陽(yáng)光照射A屏?xí)r,屏C上沒有出現(xiàn)干涉條紋;移去B后,在屏上出現(xiàn)不等間距條紋;此條紋是由于 產(chǎn)生的;
(2)移去A后,遮住縫S1或S2中的任一個(gè),C上均出現(xiàn)一窄亮斑。出現(xiàn)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要原因是 。
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