如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置.將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻.將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連.撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn).

(1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為Dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ,Dφ=,式中ΔΦ為單匝試測線圈磁通量的變化量.則試測線圈所在處磁感應強度B=__________;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢E=__________.

(2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見下表.由此可得,螺線管A內(nèi)部磁感應強度B和電流I的關(guān)系為B=__________.

實驗次數(shù)

I/A

B./×10-3 T

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(    )

A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N               B.適當增大試測線圈的橫截面積S

C.適當增大可變電阻R的阻值               D.適當延長撥動開關(guān)的時間Δt

(1)  (2)0.001 25I(或kI)(3)AB

解析:(1)由位置1撥到位置2時,穿過試測線圈的磁通量的變化量ΔΦ=2BS,代入Dφ=可得B=.

試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢E=.

(2)由實驗數(shù)據(jù)可以發(fā)現(xiàn)B∝I,比值k==0.001 25 T/A.

(3)由實驗原理B=可以發(fā)現(xiàn),適當增加線圈匝數(shù)N,適當增大線圈面積S,可以提高測量的準確性,而增大可變電阻R的阻值或適當延長撥動開關(guān)的時間,對提高實驗精度沒有影響,故選A、B.

練習冊系列答案
相關(guān)習題

科目:高中物理 來源: 題型:

精英家教網(wǎng)如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置.將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻.將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連.撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn).
(1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ,Dφ=
dm
N△?
,式中△?為單匝試測線圈磁通量的變化量.則試測線圈所在處磁感應強度B=
 
;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為△t,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=
 

(2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表.由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=
 

實驗次數(shù) I(A) B(×10-3T)
1 0.5 0.62
2 1.0 1.25
3 1.5 1.88
4 2.0 2.51
5 2.5 3.12
(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有
(A)適當增加試測線圈的匝數(shù)N
(B)適當增大試測線圈的橫截面積S
(C)適當增大可變電阻R的阻值
(D)適當撥長撥動開關(guān)的時間△t.

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科目:高中物理 來源: 題型:

如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn)。

(1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B=______;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=____。

(2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=______。

(3)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(  。

A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N  B.適當增大試測線圈的橫截面積S

C.適當增大可變電阻R的阻值  D.適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt

 

實驗次數(shù)

I(A)

B(×103T)

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

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科目:高中物理 來源: 題型:

 如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn)。

(1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B=______;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=____。

(2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=______。

(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(  。

A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N  B.適當增大試測線圈的橫截面積S

實驗次數(shù)

I(A)

B(×10-3T)

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

C.適當增大可變電阻R的阻值  D.適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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科目:高中物理 來源:2010-2011學年高考物理熱點預測專題11物理實驗 題型:填空題

 如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn)。

(1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ, Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B=______;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=____。

(2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=______。

(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(  。

A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N  B.適當增大試測線圈的橫截面積S

實驗次數(shù)

I(A)

B(×10-3T)

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

C.適當增大可變電阻R的阻值  D.適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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