Question

在光的雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，在光屏上放照相底片，并設(shè)法減弱光子流的強(qiáng)度，盡可能使光子一個一個地通過狹縫，在曝光時間不長和曝光時間足夠長兩種情況下，實(shí)驗(yàn)結(jié)果是（　�。�

A．若曝光時間不長，則底片上出現(xiàn)一些不規(guī)則點(diǎn)

B．若曝光時間足夠長，則底片上出現(xiàn)干涉條紋

C．這一實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明大量光子往往顯示出波動性，個別光子往往顯示出粒子性

D．這一實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明光具有波動性，又具有粒子性

Answer 1

A、曝光時間不長，可知光子數(shù)不多，往往表現(xiàn)為粒子性，在底片上出現(xiàn)一些不規(guī)則的點(diǎn)．故A正確．
   B、曝光時間足夠長，可知光子數(shù)較多，往往表現(xiàn)波動性，在底片上會出現(xiàn)干涉條紋．故B正確．
   C、少量的光子往往表現(xiàn)為粒子性，大量的光子往往表現(xiàn)為波動性．故C正確．
   D、該實(shí)驗(yàn)說明光既具有粒子性，又具有波動性．故D正確．
故選ABCD．