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右圖所示是用干涉法檢查某塊厚玻璃的上表面是否平整的 裝置,檢查中所觀察到的干涉條紋如圖乙所示,則
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如圖8-3-4所示,A、B兩點(diǎn)表示一定質(zhì)量的理想氣體的兩個(gè)狀態(tài),當(dāng)氣體自狀態(tài)A變化到狀態(tài)B時(shí)
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