Question

19．在做物理實驗時，經(jīng)常需要進行反復多次試驗，其中有些為了減小誤差，有些是為了尋找普通規(guī)律．例如5個物理實驗
①“用刻度尺測量長度”時，多次測量
②“探究液體內(nèi)部的壓強”時，多次改變液體密度、液體深度
③“探究串、并聯(lián)電路中各處電流的關(guān)系”時，換用不同規(guī)格的小燈泡，多次測量
④“用伏安法測電阻”時，多次測量定值電阻兩端的電壓和通過電阻的電流值
⑤“探究平面鏡成像特點”時多次測量物距、像距以及物和像大小
上述實驗中是為了尋找普遍規(guī)律的是（　　）

• A． 只有①②③
• B． 只有①④
• C． 只有②③⑤
• D． 只有②④⑤

Answer 1

分析 測量性實驗為了減小誤差或者尋找規(guī)律進行多次測量，如果物理量是個恒量，多次測量求平均值可以減小實驗誤差；如果不是測量具體的物理量，而是尋找規(guī)律也采取多次測量，尋找普遍性．

解答 解：
①“測量物體的長度”時，由于測量工具或測量方法等會產(chǎn)生實驗誤差，為了減小誤差，采取多次測量求平均值的方法；
②“探究液體內(nèi)部的壓強”時，多次改變液體密度、液體深度，目的是發(fā)現(xiàn)總結(jié)液體內(nèi)部壓強的普遍規(guī)律；
③研究串、并聯(lián)電路各處電流的關(guān)系”時，尤其是探究并聯(lián)電路的電流特點時，如果兩個燈泡阻值相同，測量的電流也會相同，就會得出“并聯(lián)電路各支路電流相等”的錯誤結(jié)論，因此為了尋找普遍規(guī)律，換用不同規(guī)格的燈泡多次測量；
④“用伏安法測電阻”時，測量的是定值電阻的阻值，測量值是個定值，多次測量可以比較測量值減小誤差；
⑤“探究平面鏡成像特點”時多次測量物距、像距以及改變物體大小、觀察虛像的大小，目的是得出平面鏡成像的普遍規(guī)律．
所以目的是發(fā)現(xiàn)普遍規(guī)律的是②③⑤．
故選C．

點評 一般地，測量性實驗多次測量的目的是減小誤差；探究性實驗多次測量的目的是總結(jié)規(guī)律，避免結(jié)論的偶然性．