質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要裝置,在科學(xué)研究中具有重要應(yīng)用。如圖所示是質(zhì)譜儀工作原理簡圖,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間的勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外。一束電荷量相同但質(zhì)量不同的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2、方向垂直紙面向外的勻強(qiáng)磁場。結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間距離為x,粒子所帶電荷量為q,且不計重力。

求:(1)該束帶電粒子的電性和速率?

(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差?

 

【答案】

(1)正電     (2)

【解析】

試題分析:(1)左手定則判定粒子帶正電

粒子經(jīng)過速度選擇器時,由 ,

 (1分)

(2)粒子在磁場B2中做勻速圓周運(yùn)動,

 ,

由幾何關(guān)系

可求(1分)

考點(diǎn):質(zhì)譜儀

點(diǎn)評:解決本題的關(guān)鍵知道從速度選擇器進(jìn)入偏轉(zhuǎn)磁場,速度相同.以及知道在偏轉(zhuǎn)磁場中的半徑與電荷的比荷有關(guān),同位素,電量相同,質(zhì)量不同,偏轉(zhuǎn)的半徑就不同.

 

練習(xí)冊系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中物理 來源: 題型:

(2008?濱州一模)質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子的質(zhì)量和分析同位素的裝置.如圖所示,電容器兩極板相距為d,兩極板間電壓為U,極板間的勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,一束電荷量相同的帶正電的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場,結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間的距離為x,粒子所帶電荷量為q,不計重力.
(1)求粒子進(jìn)入勻強(qiáng)磁場B2時的速度v的大。
(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差△m為多少?

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科目:高中物理 來源: 題型:

質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要裝置,在科學(xué)研究中具有重要應(yīng)用.如圖所示的是質(zhì)譜儀工作原理簡圖,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間的勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外.一束電荷量相同但質(zhì)量不同的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場,方向垂直紙面向外.結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間距離為x,粒子所帶電荷量為q,且不計重力.則以下判斷正確的是( 。

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科目:高中物理 來源: 題型:

精英家教網(wǎng)質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要裝置,在科學(xué)研究中具有重要應(yīng)用.如圖所示是質(zhì)譜儀工作原理簡圖,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間的勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外.一束電荷量相同但質(zhì)量不同的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2、方向垂直紙面向外的勻強(qiáng)磁場.結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間距離為x,粒子所帶電荷量為q,且不計重力.求:
(1)該束帶電粒子的電性和速率?
(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差?

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科目:高中物理 來源: 題型:

質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子的質(zhì)量和分析同位素的裝置,如圖所示,電容器兩極板相距為d,兩極板間電壓為U,極板間的勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為,一束電荷量相同的帶正電的粒子沿電容器的中心線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為的勻強(qiáng)磁場,結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)間距離為,粒子所帶電荷量為q,且不計重力,求:

(1)粒子進(jìn)入磁場時的速度v;

(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差。

 

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